1N5388BG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

1N5388BG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW10502804
Категория

Зинеровский диод
Упаковка

DO-35-2
Описание

200V 5W
даташит

Datasheet

1N5388BG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

1N5388BG Зинеровский диод характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	1N5388BG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW10502804
Категория	Зинеровский диод
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	DO-35-2
Номинальное Напряжение (DC)	200 V
Допустимое Отклонение Ёмкости	±5 %
Номинальная Мощность	5 W
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Пробивное Напряжение	152 V
Количество Стежков	2 Position
Напряжение в Прямом Направлении	1.2 V
Рассеяние Мощности	5 W
Испытательный ток	5 mA
Прямой ток	1 A
Напряжение Зенера	200 V
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.2V @1A
Максимальная входная мощность	5 W
Рабочая температура (Макс)	200 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Температура соединения (Макс)	200 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	5000 mW
	Развернуть все
Длина	8.89 mm
Ширина	3.68 mm
Высота	3.68 mm
Вес	0.004535924 kg
Рабочая Температура	-65℃ ~ 200℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

1N5388BG Описание продукта

The 1N5388BG is a Surmetic™ 40 Zener Voltage Regulator Diode with void-free transfer-molded thermosetting plastic case, all external surfaces are corrosion-resistant and leads are readily solderable finish, cathode indicated by polarity band, tight limits and better operating characteristics that reflect the superior capabilities of silicon-oxide passivated junctions.
180W at 8.3ms Surge rating
25°C/W Junction-to-lead thermal resistance
0.5µA at 152V Leakage current
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности