2N6487G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

2N6487G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW22052333
Категория

Двухполюсный плоскостной транзистор
Упаковка

TO-220-3
Описание

TO-220AB NPN 60V 15A
даташит

Datasheet

2N6487G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

2N6487G Двухполюсный плоскостной транзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	2N6487G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW22052333
Категория	Двухполюсный плоскостной транзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	TO-220-3
Частота	5 MHz
Номинальное Напряжение (DC)	60.0 V
Номинальный Ток	15.0 A
Количество Стежков	3 Position
Полярность	NPN
Рассеяние Мощности	1.8 W
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	60 V
Тепловое Сопротивление	1.67℃/W (RθJC)
Непрерывный ток коллектора	15A
hFE Min	20 @5A, 4V
hFE Max	150
Максимальная входная мощность	1.8 W
Усиление постоянного тока (hFE)	5
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1800 mW
	Развернуть все
Длина	10.53 mm
Ширина	4.83 mm
Высота	15.75 mm
Материал	Silicon
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

2N6487G Описание продукта

The 15 A, 80 V PNP Bipolar Power Transistor is designed for use in general-purpose amplifier and switching applications. 2N6487, 2N6488 (NPN); and 2N6490, 2N6491 (PNP) are complementary devices.
Features
---
|
DC Current Gain Specified to 15 Amperes-- hFE = 20-150 @ IC = 5.0 Adc; hFE= 5.0 (Min) @ IC = 15 Adc
Collector-Emitter Sustaining Voltage--VCEO(sus) = 60 Vdc (Min) - 2N6487, 2N6490; VCEO(sus)= 80 Vdc (Min) - 2N6488, 2N6491
High Current Gain--Bandwidth Product
fT = 5.0 MHz (Min) @ IC = 1.0 Adc
TO-220AB Compact Package
Pb-Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности