74ACT245SC - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74ACT245SC
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW7771962
Категория

Логический контроллер
Упаковка

SOIC-20
Описание

Bus Transceiver Single 8Channel 3-ST 20Pin SOIC W Rail
даташит

Datasheet

74ACT245SC Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74ACT245SC Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74ACT245SC
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW7771962
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-20
Напряжение Питания (DC)	5.00 V
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Каналов	8 Channel
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Ток Покоя	40 µA
Количество Вентилей	8 Gate
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Высота	2.35 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

74ACT245SC Описание продукта

The 74ACT245SC is an octal Bidirectional Transceiver with 3-state inputs/outputs and is intended for bus-oriented applications. Current sinking capability is 24mA at both the A and B ports. The transmit/receive (T/R) input determines the direction of data flow through the bidirectional transceiver. Transmit (active-HIGH) enables data from A ports to B ports, receive (active-LOW) enables data from B ports to A ports. The output enables input, when HIGH disables both A and B ports by placing it in a HIGH Z condition.
ICC and IOZ reduced by 50%
Non-inverting buffers
Bidirectional data path
A and B Outputs source/sink 24mA
TTL-compatible inputs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности