HMC942LP4E - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC942LP4E
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW1226352
Категория

Модуль RF, IC и деталь
Упаковка

QFN-24
Описание

Active RF Multipliers x2 12.5GHz to 15.5GHz 25GHz to 31GHz 24Pin QFN EP T/R
даташит

Datasheet

HMC942LP4E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC942LP4E Модуль RF, IC и деталь характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC942LP4E
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW1226352
Категория	Модуль RF, IC и деталь
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	QFN-24
Частота	25GHz ~ 31GHz
Напряжение Питания (DC)	4.00V (min)
Количество Стежков	24 Position
Рассеяние Мощности	1480 mW
Выходная Мощность	21 dBm
Максимальная входная мощность	6 dBm
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1480 mW
Напряжение питания (Макс)	5 V
Напряжение питания (мин)	4 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

HMC942LP4E Описание продукта

Product Details
The HMC942LP4E is a x2 active broadband frequency multiplier utilizing GaAs pHEMT technology in a leadless RoHS compliant SMT package. When driven by a +4 dBm signal, the multiplier provides +17 dBm typical output power from 13 to 24.6 GHz. The Fo and 3Fo isolations are >20 dBc at 19 GHz. The HMC942LP4E is ideal for use in LO multiplier chains for Pt-to-Pt & VSAT Radios yielding reduced parts count vs. traditional approaches.
Applications
Clock Generation Applications:
SONET OC-192 & SDH STM-64
Point-to-Point & VSAT Radios
Test Instrumentation
Military & Space
Sensors
### Features and Benefits
High Output Power: +21 dBm
Low Input Power Drive: 0 to +6 dBm
Fo Isolation: >45 dBc
Single Supply: +4.5V @ 214 mA
24 Lead 4x4 mm SMT
Package: 16 mm²

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности