INA2126PA - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

INA2126PA
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW77550733
Категория

Усилитель прибора
Упаковка

PDIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS INA2126PA Instrument Amplifier, 2, 500V, 0.4V/ s, 200kHz, 1.35V to 18V, DIP
даташит

Datasheet

INA2126PA Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

INA2126PA Усилитель прибора характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	INA2126PA
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW77550733
Категория	Усилитель прибора
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Напряжение Питания (DC)	15.0 V
Ток Питания	175 µA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	16 Position
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	90 dB
Ток Покоя	175 µA
Ширина Ленты	200 kHz
Скорость Нарастания	400 mV/μs
Входное Напряжение Смещения	500 µV
Входной Ток Смещения	10 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	200 kHz
Gain Bandwidth	74 dB
Минимальный диапазон CMRR	74 dB
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

INA2126PA Описание продукта

The INA2126PA is a MicroPower precision Instrumentation Amplifier for accurate, low noise differential-signal acquisition. Their two op-amp design provides excellent performance with low quiescent current (175µA/channel). Combined with a wide operating voltage range of ±1.35 to ±18V, makes the INAx126 ideal for portable instrumentation and data acquisition systems. Gain can be set from 5 to 10000V/V with a single external resistor. Laser-trimmed input circuitry provides low offset voltage (250µV maximum), low offset voltage drift (3µV/°C maximum) and excellent common-mode rejection.
35nV/√Hz Low noise
25nA Maximum low input bias current
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности