MC14027BCP - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC14027BCP
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW161669890
Категория

Бистабильный мультивибратор
Упаковка

PDIP-16
Описание

Flip Flop JK-Type Pos-Edge 2Element 16Pin PDIP Rail
даташит

Datasheet

MC14027BCP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC14027BCP Бистабильный мультивибратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC14027BCP
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW161669890
Категория	Бистабильный мультивибратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Цифровой Логический Уровень	CMOS
Напряжение Питания (DC)	15.0 V, 18.0 V (max)
Выходной Ток	-10.0 mA to 10.0 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Битов	1 Bit
Полярность	Non-Inverting, Inverting
Рассеяние Мощности	500 mW
Привод Выходного Тока	5.00 mA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	55 ℃
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	19.55 mm
Ширина	6.85 mm
Высота	3.43 mm
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
ECCN кодекс	EAR99

MC14027BCP Описание продукта

Dual J−K Flip−Flop
The MC14027B dual J−K flip−flop has independent J, K, Clock (C), Set (S) and Reset (R) inputs for each flip−flop. These devices may be used in control, register, or toggle functions.
Features
•Diode Protection on All Inputs
•Supply Voltage Range = 3.0 Vdc to 18 Vdc
•Logic Swing Independent of Fanout
•Logic Edge−Clocked Flip−Flop Design
•Logic State is Retained Indefinitely with Clock Level Either High or Low; Information is Transferred to the Output Only on the Positive−Going Edge of the Clock Pulse
•Capable of Driving Two Low−Power TTL Loads or One Low−Power Schottky TTL Load Over the Rated Temperature Range
•Pin−for−Pin Replacement for CD4027B
•Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности