MJE181 - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MJE181
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW161718053
Категория

Двухполюсный плоскостной транзистор
Упаковка

TO-225-3
Описание

TO-225-3 NPN 60V 3A
даташит

Datasheet

MJE181 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MJE181 Двухполюсный плоскостной транзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MJE181
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW161718053
Категория	Двухполюсный плоскостной транзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Корпус/Пакет	TO-225-3
Номинальное Напряжение (DC)	60.0 V
Номинальный Ток	3.00 A
Полярность	N-Channel
Рассеяние Мощности	1.5 W
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	50 MHz
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	60 V
Непрерывный ток коллектора	3A
hFE Min	50
hFE Max	250
Максимальная входная мощность	12.5 W
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	65 ℃
	Развернуть все
Длина	7.74 mm
Ширина	2.66 mm
Высота	11.04 mm
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Bulk
Минимальное количество упаковки	500
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

MJE181 Описание продукта

MJE170, MJE171, MJE172 (PNP), MJE180, MJE181, MJE182 (NPN)
3 AMPERES POWER TRANSISTORS COMPLEMENTARY SILICON 40 − 60 − 80 VOLTS 12.5 WATTS
The MJE170/180 series is designed for low power audio amplifier and low current, high speed switching applications.
Features
•Collector−Emitter Sustaining Voltage −
VCEO(sus) = 40 Vdc − MJE170, MJE180
= 60 Vdc − MJE171, MJE181
= 80 Vdc − MJE172, MJE182
•DC Current Gain −
hFE = 30 (Min) @ IC= 0.5 Adc
= 12 (Min) @ IC= 1.5 Adc
•Current−Gain − Bandwidth Product − fT = 50 MHz (Min) @ IC= 100 mAdc
•Annular Construction for Low Leakages − ICBO = 100 nA (Max) @ Rated VCB
•Epoxy Meets UL 94 V−0 @ 0.125 in
•ESD Ratings: Machine Model, C Human Body Model, 3B
•Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности