MJE182G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MJE182G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW1687340
Категория

Двухполюсный плоскостной транзистор
Упаковка

TO-126-3
Описание

TO-225 NPN 80V 3A
даташит

Datasheet

MJE182G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MJE182G Двухполюсный плоскостной транзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MJE182G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW1687340
Категория	Двухполюсный плоскостной транзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	TO-126-3
Частота	50 MHz
Номинальное Напряжение (DC)	80.0 V
Номинальный Ток	3.00 A
Количество Стежков	3 Position
Полярность	NPN
Рассеяние Мощности	1.5 W
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	80 V
Тепловое Сопротивление	10℃/W (RθJC)
Непрерывный ток коллектора	3A
hFE Min	50 @100mA, 1V
Максимальная входная мощность	1.5 W
Усиление постоянного тока (hFE)	50
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	12500 mW
	Развернуть все
Длина	7.8 mm
Ширина	3 mm
Высота	11.1 mm
Материал	Silicon
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99
Лицензия HK STC	NLR

MJE182G Описание продукта

The MJE182G is a 80V NPN complementary plastic silicon Bipolar Transistor designed for low power audio amplifier and low current, high speed switching applications. The MJE172 (PNP) and MJE182 (NPN) are complementary devices.
High DC current gain
High current-gain - bandwidth
Annular construction for low leakages
Epoxy meets UL94V-0 flammability rating
100VDC Collector to base voltage (VCBO)
7V Emitter to base voltage (VEBO)
6A Peak collector current
1ADC Base current (IB)
10°C/W Thermal resistance, junction to case
83.4°C/W Thermal resistance, junction to ambient

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности