MOC3031M - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MOC3031M
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW35316807
Категория

Оптопара/ оптоизолятор
Упаковка

PDIP-6
Описание

Optocoupler Triac AC-OUT 1CH 250V 6Pin PDIP White Bag
даташит

Datasheet

MOC3031M Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MOC3031M Оптопара/ оптоизолятор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MOC3031M
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW35316807
Категория	Оптопара/ оптоизолятор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-6
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	6 Position
Напряжение в Прямом Направлении	1.25 V
Рассеяние Мощности	250 mW
Напряжение Изоляции	4170 Vrms
Ток Удержания	400 µA
Прямой ток	60 mA
Максимальное входное напряжение	1.5 V
Выходное напряжение (Макс)	175 VAC
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.5 V
Прямой ток (макс)	60 mA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	250 mW
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bag
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

MOC3031M Описание продукта

The MOC303XM and MOC304XM devices consist of a AlGaAs infrared emitting diode optically coupled to a monolithic silicon detector performing the function of a zero voltage crossing bilateral triac driver.They are designed for use with a triac in the interface of logic systems to equipment powered from 115VAClines such as teletypewriters, CTRs, solid-state relays, industrial controls, printers, motors, solenoids and consumer appliances, etc.
Features
---
|
Simplifies Logic Control of 115 VAC power
Zero Voltage Crossing
dv/dt of 2000 V/µs Typical, 1000 V/µs Guaranteed
Peak Blocking Voltage
– 250 V, MOC303XM
– 400 V, MOC304XM
Safety and Regulatory Approvals
– UL1577, 4,170 VACRMS for 1 Minute
– DIN EN/IEC60747-5-5

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности