MOCD207M - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MOCD207M
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW1721419
Категория

Оптопара/ оптоизолятор
Упаковка

SOIC-8
Описание

Optocoupler DC-IN 2CH Transistor DC-OUT 8Pin SOIC N Box
даташит

Datasheet

MOCD207M Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MOCD207M Оптопара/ оптоизолятор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MOCD207M
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW1721419
Категория	Оптопара/ оптоизолятор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	8 Position
Напряжение в Прямом Направлении	1.25 V
Рассеяние Мощности	250 mW
Время Нарастания	1.6 µs
Напряжение Изоляции	2500 Vrms
Входной ток (мин)	60 mA
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.55 V
Прямой ток (макс)	60 mA
Время падения	2.2 µs
Рабочая температура (Макс)	100 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	250 mW
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 100℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

MOCD207M Описание продукта

The MOCD207M device consists of two gallium arsenide infrared emitting diodes optically coupled to two monolithic silicon phototransistor detectors, in a surface mountable, small outline plastic package. It is ideally suited for high density applications and eliminates the need for through-the-board mounting.
Features
---
|
Closely Matched Current Transfer Ratios
Minimum BVCEO of 70 V Guaranteed
MOCD207M, MOCD208M
Minimum BVCEO of 30 V Guaranteed
MOCD211M, MOCD213M, MOCD217M
Low LED Input Current Required for Easier Logic Interfacing
MOCD217M
Convenient Plastic SOIC-8 Surface Mountable Package Style, with 0.050" Lead Spacing
Safety and Regulatory Approvals:
UL1577, 2,500 VACRMS for 1 Minute
DIN-EN/IEC60747-5-5, 565 V Peak Working Insulation Voltage

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности