MPX5050DP - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MPX5050DP
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW5593700
Категория

Датчики Давления
Упаковка

SIP-6
Описание

Pressure Sensor, Differential, 90mV/kPa, 0 kPa, 50 kPa, 4.75V, 5.25V
даташит

Datasheet

MPX5050DP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MPX5050DP Датчики Давления характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MPX5050DP
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW5593700
Категория	Датчики Давления
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SIP-6
Напряжение Питания (DC)	4.75V (min)
Безгалогеновый Статус	Not Halogen Free
Выходное Напряжение	0.2V ~ 4.7V
Ток Питания	7.00 mA
Количество Стежков	6 Position
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
точность	±2.5 %
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Вес	5241.45 mg
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
ECCN кодекс	EAR99

MPX5050DP Описание продукта

The MPX5050DP is a dual port, differential integrated silicon pressure sensor in 6 pin SIP package. This piezoresistive transducer is a state of the art monolithic silicon pressure sensor designed for wide range of applications. This patented single element transducer combines advanced micromachining techniques, thin film metallization and bipolar processing to provide an accurate and high level analogue output signal that is proportional to applied pressure.
On-chip signal conditioned, temperature compensated and calibrated
2.5% maximum error over 0°C to 85°C
Ideally suited for microprocessor or microcontroller based systems
Temperature compensated over -40°C to 125°C
Patented silicon shear stress strain gauge
Durable epoxy unibody element
Pressure range from 0KPa to 50KPa
Supply voltage range from 4.75VDC to 5.25VDC
Sensitivity of 90mV/KPa
Response time of 1ms

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности