TL4050B41QDBZRQ1 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TL4050B41QDBZRQ1
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW22487103
Категория

Опорный чип напряжения
Упаковка

SOT-23-3
Описание

V-Ref Precision 4.096V 15mA 3Pin SOT-23 T/R
даташит

Datasheet

TL4050B41QDBZRQ1 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TL4050B41QDBZRQ1 Опорный чип напряжения характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TL4050B41QDBZRQ1
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW22487103
Категория	Опорный чип напряжения
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-3
Допустимое Отклонение Ёмкости	±0.2 %
Выходное Напряжение	4.096 V
Выходной Ток	15 mA
Выходное напряжение (мин)	4.096 V
точность	0.2 %
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃ (TA)
Коэффициент Температуры	±50 ppm/℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TL4050B41QDBZRQ1 Описание продукта

The TL4050-Q1 family of shunt voltage references are versatile easy-to-use references suitable for a wide array of applications. The two-terminal fixed-output device requires no external capacitors for operation and is stable with all capacitive loads. Additionally, the reference offers low dynamic impedance, low noise, and low temperature coefficient to ensure a stable output voltage over a wide range of operating currents and temperatures.
The TL4050-Q1 is available in three initial tolerances, ranging from 0.1% (maximum) for the A grade to 0.5% (maximum) for the C grade. Thus, a great deal of flexibility is available to designers in choosing the best cost-to-performance ratio for their applications. Packaged in the space-saving SOT-23-3 and SC-70 packages and requiring a minimum current of 45 µA (typical), the TL4050-Q1 also is ideal for portable applications.
The TL4050x-Q1 characterization is for operation over an ambient temperature range of –40°C to 125°C.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности