UA709CP - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

UA709CP
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW355896813
Категория

Операционный усилитель
Упаковка

DIP
Описание

GENERAL-PURPOSE OPERATIONAL AMPLIFIERS
даташит

Datasheet

UA709CP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}
Chipworker	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	{{stockAvailability}} {{ search_item }}	{{moq}}	-	6 - 8 {{delivery_date}}

UA709CP Операционный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	UA709CP
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW355896813
Категория	Операционный усилитель
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	DIP
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown

UA709CP Описание продукта

description
These circuits are general-purpose operational amplifiers, each having high-impedance differential inputs and a low-impedance output.
Component matching, inherent with silicon monolithic circuit-fabrication techniques, produces an amplifier with low-drift and low-offset characteristics. Provisions are incorporated within the circuit whereby external components may be used to compensate the amplifier for stable operation under various feedback or load conditions. These amplifiers are particularly useful for applications requiring transfer or generation of linear or nonlinear functions.
The uA709A circuit features improved offset characteristics, reduced input-current requirements, and lower power dissipation when compared to the uA709 circuit. In addition, maximum values of the average temperature coefficients of offset voltage and current are specified for the uA709A.
The uA709C is characterized for operation from 0°C to 70°C. The uA709AM and uA709M are characterized for operation over the full military temperature range of –55°C to 125°C.
• Common-Mode Input Range . . . ±10 V Typical
• Designed to Be Interchangeable With Fairchild µA709A, µA709, and µA709C
• Maximum Peak-to-Peak Output Voltage Swing . . . 28-V Typical With 15-V Supplies

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности