BZX84C2V7LT1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

BZX84C2V7LT1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW5001992
Категория

Зинеровский диод
Упаковка

SOT-23-3
Описание

SOT-23 2.7V 300mW
даташит

Datasheet

BZX84C2V7LT1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

BZX84C2V7LT1G Зинеровский диод характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	BZX84C2V7LT1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW5001992
Категория	Зинеровский диод
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-3
Номинальное Напряжение (DC)	2.70 V
Допустимое Отклонение Ёмкости	±7 %
Номинальная Мощность	225 mW
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Пробивное Напряжение	2.90 V
Количество Стежков	3 Position
Напряжение в Прямом Направлении	900mV @10mA
Рассеяние Мощности	225 mW
Испытательный ток	5 mA
Прямой ток	10 mA
Напряжение Зенера	2.7 V
Максимальное прямое напряжение (Макс)	900mV @10mA
Максимальная входная мощность	225 mW
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Температура соединения (Макс)	150 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	300 mW
	Развернуть все
Длина	2.9 mm
Ширина	1.3 mm
Высота	0.94 mm
Материал	Plastic
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃
Коэффициент Температуры	-1.75 mV/K
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2016/06/20
ECCN кодекс	EAR99

BZX84C2V7LT1G Описание продукта

The BZX84CxxxLT1G series surface mount Zener Diode designed to provide voltage regulation with minimum space requirement. They are well suited for applications such as cellular phones, hand held portables and high density PC boards.
225mW Rating on FR-4 or FR-5 board
Small package size for high density applications
Tight tolerance available
ESD rating of Class 3 (>16kV) per human body model
AEC-Q101 qualified and PPAP capable
Pb-free device

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности