CD4508BE - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4508BE
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW79236350
Категория

Логический замок
Упаковка

DIP-24
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD4508BE Latch, CD4508, D Type, Standard, 50ns, 6.8mA, DIP
даташит

Datasheet

CD4508BE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4508BE Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4508BE
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW79236350
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	DIP-24
Цифровой Логический Уровень	CMOS
Напряжение Питания (DC)	15.0 V, 18.0 V (max)
Выходной Ток	6.8 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	24 Position
Количество Битов	4 Bit
Полярность	Non-Inverting
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Ток Покоя	40.0 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2018/06/27

CD4508BE Описание продукта

The CD4508BE is a dual 4-bit Latch contains two identical 4-bit latches with separate STROBE, RESET and OD control. With the STROBE line in the high state, the data on the "D" inputs appear at the corresponding "Q" outputs provided the DISABLE line is in the low state. Changing the STROBE line to the low state locks the data into the latch. A high on the RESET line forces the outputs to a low level regardless of the state of the STROBE input. The outputs are forced to the high-impedance state for bus line applications by a high level on the DISABLE input.
Individual master reset for each 4-bit latch
3-state outputs with high-impedance state for bus line applications
100% Tested for quiescent current at 20V
Standardized, symmetrical output characteristics

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности