CD74HC132E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HC132E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW4244040
Категория

Логический чип
Упаковка

PDIP-14
Описание

NAND Gate 4Element 2IN CMOS 14Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

CD74HC132E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HC132E Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HC132E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW4244040
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-14
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 6.00V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	5.2 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	4 Bit
Время Задержки Распространения	150 ns
Узлы Напряжения	6.00 V, 5.00 V, 2.00 V
Количество Вентилей	4 Gate
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
Военный Класс	Yes
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17
ECCN кодекс	EAR99

CD74HC132E Описание продукта

The CD74HC132E is a high speed quad 2-input Schmitt-triggered NAND Gate. This logic device utilizes silicon gate CMOS technology to achieve operating speeds similar to LSTTL gates with the low power consumption of standard CMOS integrated circuits. The device have the ability to drive 10 LSTTL loads.
Unlimited input rise and fall times
Exceptionally high noise immunity
10ns Typical propagation delay
Balanced propagation delay and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
High noise immunity - NIL = 37%, NIH = 51%

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности