EP1C3T100C8N - Altera

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

EP1C3T100C8N
Производитель

Altera
Чип воркер Часть №

CW3219396
Категория

Чип FPGA
Упаковка

TQFP-100
Описание

Field Programmable Gate Array, 2910 CLBs, 275MHz, 2910-Cell, CMOS, PQFP100, 16 X 16MM, 0.5MM PITCH, TQFP-100
даташит

Datasheet

EP1C3T100C8N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

EP1C3T100C8N Чип FPGA характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	EP1C3T100C8N
Производитель	Altera
Чип воркер Часть №	CW3219396
Категория	Чип FPGA
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	100 Pin
Корпус/Пакет	TQFP-100
Частота	275.03 MHz
Напряжение Питания (DC)	1.50 V
Количество Стежков	100 Position
Размер ОЗУ	59904 b
Количество I/O Выводов	104 IO
Количество входов и выходов	65 Input IO
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	1.425V ~ 1.575V
Напряжение питания (Макс)	1.89 V
Напряжение питания (мин)	1.71 V
	Развернуть все
Длина	14 mm
Ширина	14 mm
Высота	1 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/06/16
Лицензия HK STC	NLR

EP1C3T100C8N Описание продукта

The EP1C3T100C8N is a surface mount Field Programmable Gate Array IC with PLL clock management and 2910 logic elements. The Cyclone™ field programmable gate array with features like phase-locked loops (PLLs) for clocking and a dedicated double data rate (DDR) interface to meet DDR SDRAM and fast cycle RAM (FCRAM) memory requirements. It support for multiple intellectual property (IP) cores, including Altera® MegaCore® functions and Altera Megafunctions Partners Program (AMPPSM) megafunctions.
Up to 294912 RAM bits
Support for LVTTL, LVCMOS, SSTL-2 and SSTL-3 I/O standards
High-speed (640Mbps) LVDS I/O support
Low-speed (311Mbps) LVDS I/O support
311Mbps RSDS I/O support

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности