HI-3182PST - HOLT

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HI-3182PST
Производитель

HOLT
Чип воркер Часть №

CW141758500
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

SOP
Описание

ARINC 429 Driver 1TX 2RX 100Kbps 16Pin SOIC W EP

HI-3182PST Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}
Chipworker	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	{{stockAvailability}} {{ search_item }}	{{moq}}	-	6 - 8 {{delivery_date}}

HI-3182PST Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HI-3182PST
Производитель	HOLT
Чип воркер Часть №	CW141758500
Категория	Чип интерфейса
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOP
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

HI-3182PST Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The HI-3182, HI-3183, HI-3184, HI-3185, HI-3186, HI-3187 and HI-3188 bus interface products are silicon gate CMOS devices designed as a line driver in accordance with the ARINC 429 bus specifications. In addition to being functional upgrades of Holt"s HI-8382 & HI-8383 products, they are also alternate sources for the HS-3182 ( Intersil/Harris), the RM3182 (Fairchild /Raytheon) and a variety of similar line driver products from other manufacturers.
Inputs are provided for clocking and synchronization. These signals are AND"d with the DATA inputs to enhance system performance and allow the HI-318X series of products to be used in a variety of applications. Both logic and synchronization inputs feature built-in 2,000V minimum ESD input protection as well as TTLand CMOS compatibility.
FEATURES
• Low power CMOS
• TTL and CMOS compatible inputs
• Programmable output voltage swing
• Adjustable ARINC rise and fall times
• Plastic 14 & 16-pin thermally enhanced SOIC packages available
• Pin-for-Pin alternative for Intersil/Fairchild applications
• Operates at data rates up to 100 Kbits
• Overvoltage protection
• Industrial and Military temperature ranges

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности