HMC424ALH5 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC424ALH5
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW2820630
Упаковка

CLCC-12
Описание

6Bits 0.5dBStep 31.5dB Digital Attenuator 13GHz 12Pin CLLCC T/R
даташит

Datasheet

HMC424ALH5 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}
Chipworker	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	{{stockAvailability}} {{ search_item }}	{{moq}}	-	6 - 8 {{delivery_date}}

HMC424ALH5 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC424ALH5
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW2820630
даташит	Datasheet
Количество Выводов	12 Pin
Корпус/Пакет	CLCC-12
Ток Питания	5 mA
Количество Битов	6 Bit
Рассеяние Мощности	0.174 W
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	174 mW
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

HMC424ALH5 Описание продукта

Product Details
The HMC424ALH5 is a broadband 6-bit GaAs MMIC digital attenuator housed in a hermetic SMT leadless package. Covering DC to 13 GHz, the insertion loss is less than 3.5 dB typical. The attenuator bit values are 0.5 (LSB), 1, 2, 4, 8, and 16 dB for a total attenuation of 31.5 dB. Attenuation accuracy is excellent at ±0.5 dB typical step error with an IIP3 of +34 dBm. Six control voltage inputs, toggled between 0 and -5V, are used to select each attenuation state. A single Vee bias of -5V allows operation at frequencies down to DC. The HMC424ALH5 is compatible with standard and lead free surface mount manufacturing techniques and is suitable for high reliability military, industrial and space applications.
Applications
Telecom Infrastructure
Military Radio, Radar & ECM
Space Systems
Test Instrumentation
### Features and Benefits
0.5 dB LSB Steps to 31.5 dB
Single Control Line Per Bit
± 0.3 dB Typical Bit Error
Hermetic SMT Package, 25mm2
Screening to MIL-PRF-38535 (Class B or S) Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности