MC74HC4046ADG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC74HC4046ADG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW82799396
Категория

Деталь тактового сигнала
Упаковка

SOIC-16
Описание

PLL Single 16Pin SOIC Rail
даташит

Datasheet

MC74HC4046ADG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC74HC4046ADG Деталь тактового сигнала характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC74HC4046ADG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW82799396
Категория	Деталь тактового сигнала
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-16
Частота	13 MHz
Напряжение Питания (DC)	3.00V (min)
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Ток Питания	4.00 µA
Количество Цепей	1 Circuit
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	10 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MC74HC4046ADG Описание продукта

Phase−Locked Loop
High−Performance Silicon−Gate CMOS
The MC74HC4046A is similar in function to the MC14046 Metal gate CMOS device. The device inputs are compatible with standard CMOS outputs; with pullup resistors, they are compatible with LSTTL outputs.
Features
• Output Drive Capability: 10 LSTTL Loads
• Low Power Consumption Characteristic of CMOS Devices
• Operating Speeds Similar to LSTTL
• Wide Operating Voltage Range: 3.0 to 6.0 V
• Low Input Current: 1.0 μA Maximum (except SIGIN and COMPIN)
• In Compliance with the Requirements Defined by JEDEC Standard No. 7A
• Low Quiescent Current: 80 μA Maximum (VCO disabled)
• High Noise Immunity Characteristic of CMOS Devices
• Diode Protection on all Inputs
• Chip Complexity: 279 FETs or 70 Equivalent Gates
• Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности