SN74CBTD3384DW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74CBTD3384DW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW45149275
Категория

Логический контроллер
Упаковка

SOIC-24
Описание

10Bit FET Bus Switches With Level Shifting 24-SOIC -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

SN74CBTD3384DW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74CBTD3384DW Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74CBTD3384DW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW45149275
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-24
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Выходной Ток	64 mA
Тип Контактов	SPST
Ток Питания	250 mA
Количество Каналов	10 Channel
Количество Стежков	24 Position
Сопротивление Сток-исток (Открытого Канала)	5 Ω
Количество Битов	10 Bit
Время Задержки Распространения	250 ps
Полярность	Non-Inverting
Ширина Ленты	20.0 MHz
Количество входов	10 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	15.4 mm
Ширина	7.52 mm
Высота	2.35 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74CBTD3384DW Описание продукта

The CBTD3384 devices provide ten bits of high-speed TTL-compatible bus switching. The low on-state resistance of the switches allows connections to be made without adding propagation delay. A diode to VCC is integrated on the die to allow for level shifting between 5-V inputs and 3.3-V outputs.
These devices are organized as two 5-bit switches with separate output-enable (OE\\\\) inputs. When OE\ is low, the switch is on, and port A is connected to port B. When OE\ is high, the switch is open, and the high-impedance state exists between the two ports.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности