SN74LS51DR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LS51DR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW41345193
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

AND-OR-Invert Gate 2Element 2 Wide 2IN/3IN Bipolar 14Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

SN74LS51DR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}
Chipworker	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	{{stockAvailability}} {{ search_item }}	{{moq}}	-	6 - 8 {{delivery_date}}

SN74LS51DR Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LS51DR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW41345193
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	4.75V ~ 5.25V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	8.00 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Битов	2 Bit
Время Задержки Распространения	20.0 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Количество Вентилей	2 Gate
Привод Выходного Тока	-50.0 µA
Количество входов	10 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Длина	8.65 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

SN74LS51DR Описание продукта

The "51 and "S51 contain two independent 2-wide 2-input AND-OR-INVERT gates. They perform the Boolean function Y = AB + CD\\\\.
The "LS51 contains one 2-wide 3-input and one 2-wide 2-input AND-OR-INVERT gates. They perform the Boolean functions 1Y = (1A · 1B · 1C) + (1D · 1E · 1F)\ and 2Y = (2A · 2B) + (2C · 2D)\\\\.
The SN5451, SN54LS51, and SN54S51 are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN7451, SN74LS51 and SN74S51 are characterized for operation from 0°C to 70°C.
View datasheet View product folder

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности