TDE1707BFP - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TDE1707BFP
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW9992200
Категория

Контролер нагрузки
Упаковка

SOIC-8
Описание

STMicroelectronics TDE1707BFP, Power Switch Dual 500mA 50V max. 8Pin SOIC
даташит

Datasheet

TDE1707BFP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TDE1707BFP Контролер нагрузки характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TDE1707BFP
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW9992200
Категория	Контролер нагрузки
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	50.0V (max)
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Входное Напряжение (DC)	50.0 V
Выходное Напряжение	55.0 V, 5.00 V (max)
Выходной Ток	0.5 A
Количество Стежков	8 Position
Максимальное входное напряжение	50 V
Выходной ток (Макс)	500 mA
Выходной ток (мин)	0.5 A
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-25 ℃
Напряжение питания	6V ~ 48V
Входное напряжение	50 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.25 mm
Рабочая Температура	-25℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

TDE1707BFP Описание продукта

The TDE1707BFP is an Intelligent Power Switch with low side or high side switch configuration. Especially dedicated to proximity detectors, its internal +5V supply can be used to supply external circuits. A signal is internally generated to block the in-signal and prevent activation of the output switch, as long as an abnormal condition is detected.
Overload and short-circuit protections
Internal voltage clamping
Supply and output reversal protection
Thermal shutdown
GND and VS open wire protection
Adjustable delay at switch ON
Indicator status LED driver
High burst immunity

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности