DS26LV32ATMX - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

DS26LV32ATMX
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW25235074
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

SOIC-16
Описание

3V Enhanced CMOS Quad Differential Line eceiver 16-SOIC -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

DS26LV32ATMX Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

DS26LV32ATMX Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	DS26LV32ATMX
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW25235074
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-16
Рабочее Напряжение	3V ~ 3.6V
Ток Питания	15 mA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	3V ~ 3.6V
	Развернуть все
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

DS26LV32ATMX Описание продукта

DESCRIPTION
The DS26LV32A is a high speed quad differential CMOS receiver that meets the requirements of both TIA/EIA-422-B and ITU-T V.11. The CMOS DS26LV32AT features typical low static ICC of 9 mA which makes it ideal for battery powered and power conscious applications. The TRI-STATE enables, EN and EN, allow the device to be active High or active Low. The enables are common to all four receivers.
FEATURES
• Low Power CMOS Design (30 mW typical)
• Interoperable with Existing 5V RS-422 Networks
• Industrial and Military Temperature Range
• Conforms to TIA/EIA-422-B (RS-422) and ITU-T V.11 Recommendation
• 3.3V Operation
• ±7V Common Mode Range @ VID = 3V
• ±10V Common Mode Range @ VID = 0.2V
• Receiver OPEN Input Failsafe Feature
• Guaranteed AC Parameter:
– Maximum Receiver Skew: 4 ns
– Maximum Transition Time: 10 ns
• Pin Compatible with DS26C32AT
• 32 MHz Toggle Frequency
• > 6.5k ESD Tolerance (HBM)
• Available in SOIC and CLGA Packaging
• Standard Microcircuit Drawing (SMD) 5962-98585

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности