SN74ALS805ADWR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74ALS805ADWR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW122033603
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-20
Описание

NOR Gate 6Element 2IN Bipolar 20Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

SN74ALS805ADWR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}
Chipworker	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	{{stockAvailability}} {{ search_item }}	{{moq}}	-	6 - 8 {{delivery_date}}

SN74ALS805ADWR Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74ALS805ADWR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW122033603
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-20
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Выходной Ток	24.0 mA
Количество Цепей	6 Circuit
Время Задержки Распространения	8.00 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Количество Вентилей	6 Gate
Привод Выходного Тока	-625 µA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
	Развернуть все
Высота	2.35 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Obsolete
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

SN74ALS805ADWR Описание продукта

description
These devices contain six independent 2-input NOR drivers. They perform the Boolean functions Y = A + B or Y = A • B in positive logic.
The SN54ALS805A and SN54AS805B are characterized for operation over the full military temperature range of −55°C to 125°C. The SN74ALS805A and SN74AS805B are characterized for operation from 0°C to 70°C.
• High Capacitive-Drive Capability
• ′ALS805A Has Typical Delay Time of 4.2 ns (CL = 50 pF) and Typical Power Dissipation of 4.2 mW Per Gate
• ′AS805B Has Typical Delay Time of 2.6 ns (CL = 50 pF) and Typical Power Dissipation of 12 mW Per Gate
• Package Options Include Plastic
Small-Outline (DW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности