STPSC1206D - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

STPSC1206D
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW5036393
Категория

Диоды Шоттки
Упаковка

TO-220-2
Описание

STMICROELECTRONICS STPSC1206D Silicon Carbide Schottky Diode, SIC, 600V Series, Single, 600V, 12A, 12NC, TO-220AC
даташит

Datasheet

STPSC1206D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

STPSC1206D Диоды Шоттки характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	STPSC1206D
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW5036393
Категория	Диоды Шоттки
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	TO-220-2
Напряжение в Прямом Направлении	1.7V @12A
Тепловое Сопротивление	1.75 ℃/W
Обратное время восстановления	0 ns
Прямой ток	12 A
Максимальный ток перенапряжения (Ifsm)	200 A
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.7V @12A
Прямой ток (макс)	12000 mA
Рабочая температура (Макс)	175 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Температура соединения (Макс)	175 ℃
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 175℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

STPSC1206D Описание продукта

These diodes are manufactured using silicon carbide substrate. This wide bandgap material supports the manufacture of a Schottky diode structure with a high voltage rating. Such diodes exhibit no or negligible recovery characteristics.
The recovery characteristics are independent of the temperature.
Using these diodes will significantly reduce the switching power losses of the associated MOSFET, and thus increase the efficiency of the overall application. These diodes will then outperform the power factor correction circuit operating in hard switching conditions.
**Key Features**
No reverse recovery
Dedicated to PFC boost diode
Switching behavior independent of temperature

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности