UCLAMP3311P - Semtech Corporation

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

UCLAMP3311P
Производитель

Semtech Corporation
Чип воркер Часть №

CW11853000
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

SLP1006P2
Описание

SEMTECH UCLAMP3311P TVS Diode, µClamp Series, Bidirectional, 3.3V, 18V, SLP1006P2, 2Pins
даташит

Datasheet

UCLAMP3311P Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

UCLAMP3311P Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	UCLAMP3311P
Производитель	Semtech Corporation
Чип воркер Часть №	CW11853000
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	SLP1006P2
Рабочее Напряжение	3.30 V
Количество Стежков	2 Position
Зажимное напряжение	18 V
Пиковая импульсная мощность	90 W
	Развернуть все
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC

UCLAMP3311P Описание продукта

The µClamp series low voltage TVS Diode for ESD and CDE protection. It is designed to replace multilayer varistors (MLVs) in portable applications such as cell phones, notebook computers and PDAs. It offers superior electrical characteristics such as lower clamping voltage and no device degradation when compared to MLVs. The device is designed to protect sensitive semiconductor components from damage or upset due to electrostatic discharge (ESD), lightning, electrical fast transients (EFT) and cable discharge events (CDE). The device is constructed using Semtech"s proprietary EPD process technology. The EPD process provides low standoff voltages with significant reductions in leakage currents and capacitance over silicon avalanche diode processes. It features a true operating voltage of 3.3V for superior protection when compared to traditional PN junction devices. It gives the designer the flexibility to protect one line in applications where arrays are not practical.
Protects one data line
Low clamping voltage
Low leakage current
Solid-state silicon-avalanche technology
-55 to 125°C Operating temperature range

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности