HMC7992LP3DE - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC7992LP3DE
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW820442
Упаковка

LFCSP-16
Описание

RF Switch SP4T 100MHz to 6GHz 25dB 16Pin LFCSP EP T/R
даташит

Datasheet

HMC7992LP3DE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC7992LP3DE характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC7992LP3DE
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW820442
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	LFCSP-16
Частота	6000 MHz
Ток Питания	0.18 mA
Частота испытаний	6 GHz
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	3.3V ~ 5V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 105℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

HMC7992LP3DE Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The HMC7992is a general-purpose, nonreflective, 0.1 GHz to 6.0 GHz, silicon, single-pole, four-throw (SP4T) switch in a leadless, surface-mount package. The switch is ideal for cellular infrastructure applications, offers high isolation of 45 dB typical at 2 GHz, and a low insertion loss of 0.6 dB at 2 GHz. It offers excellent power handling capability up to 6.0 GHz, with input power of 1 dB compression point (P1dB) of 35 dBm at 5 V operation.
FEATURES
Nonreflective, 50 Ω design
High isolation: 45 dB typical at 2 GHz
Low insertion loss: 0.6 dB at 2 GHz
High power handling
33 dBm through path
27 dBm terminated path
High linearity
1 dB compression (P1dB): 35 dBm typical
Input third-order intercept (IIP3): 58 dBm typical
ESD rating: 2 kV human body model (HBM), Class 2
Single positive supply: 3.3 V to 5.0 V
Standard TTL-, CMOS-, and 1.8 V-compatible control
16-lead, 3 mm × 3 mm LFCSP package (9 mm2)
Pin compatible with the HMC241ALP3E
APPLICATIONS
Cellular/4G infrastructure
Wireless infrastructure
Automotive telematics
Mobile radios
Test equipment

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности